
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年8期
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《电子测试》2015年8期2015年 08期
目次
- 设计与研发
- 雷道仲1-3+15
- 赖树明;杨卓鑫;张丽娟;韩清涛;任斌4-9
- 何凯;王纪婵;刘刚10-12
- 王学中;何宝义;王建国13-15
- 何福君16-18+15
- 杨毅19-23
- 高振东24-27
- 石桂名;柏久宇;孟繁盛28-30+34
- 李俊仕31-34
- 理论与算法
- 田园;杨晓东35-37
- 赵霞;王召巴38-40+23
- 贡丽霞;王瑞霞;何东中41-43+27
- 何正玲44-45
- 王旭46-50
- 郑木火;何溶溶;周根火51-54
- 李鹤55-59
- 胡元元60-62
- 李耀阳;李刚;贾龙;范奎武63-65+62
- 赵延轲;杨杰66+59
- 网络与信息工程
- 贺涛67-69
- 刘清宫70-72
- 余建平73-76
- 刘晓菲77-80