
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年7期
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《电子测试》2015年7期2015年 07期
目次
- 设计与研发
- 马俊辉;王晓虹;苏春丽1-2
- 申屠磊璇3-8
- 黄建硕;李福东9-11
- 张林;周维;陈旭12-15
- 张磊;陈杰16-18
- 周卓洋;占颂19-21
- 查南22-25
- 苓树奇;王佳星;边浩然26-28
- 谢志平29-32
- 李勇;傅成华;张乃川33-35
- 庞斯棉36-37
- 理论与算法
- 卿宴伶38-39+35
- 孙全国40-42
- 吴笑峰;陈增辉43-45
- 曾梦妤46-50
- 张 51-54
- 林斌55-58
- 程春英;李海峰59-61
- 网络与信息工程
- 梁洁62-64
- 盛洪65-67
- 甄华68-70
- 方淳;刘天健71-72+58
- 曹海红;王宏军73-75
- 李萌;田崇瑞;王雪茹76-77+82
- 冯晓燕78-79
- 测试工具与解决方案
- 白雪峰80-82
- 张文斐;钱曙光;朱克家;徐欢;钱进83-86
- 宁娟87-89
- 鲍礼铭90-92
- 申屠磊璇93-95
- 李灼华96-97
- 李泠若98-100
- 唐景丽101-103+86
- 冉霞104-108
- 韩春永;井哲109-112
- 刘浩伟113-115
- 王士溥116-119
- 孔鹏;王琳;李榛;张亚新120-122
- 刘殿岫123-124
- 李鸿儒125-126+89
- 科技论坛
- 刘鑫127-129+108
- 顾学俊130-131+122
- 唐惠珍132-135
- 孔会敏136-137+135
- 宋磊;杨文138-139
- 刘鸣140-141+135
- 马晓红142-143+165
- 周若林;赵应林144-147
- 张朝兰148-149+147
- 巫修海150-151+147
- 徐天152-155
- 梁静;杨华勋156-157
- 田锋158-159
- 张尚 160-161
- 赵岩;陈永当;曹阳162-165
- 谢军;陈海军;韩怀阳166-168
- 7-8
- 8
发布日期:2020-09-11
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