
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年6期
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《电子测试》2015年6期2015年 06期
目次
- 设计与研发
- 闫文龙1-3
- 胡亚超;王爱玉4-6
- 雷宁7-9
- 杨锐;刘宏杰;周永录10-14+17
- 林清煌;龚尚伟;叶希梅15-17
- 詹景坤;吕天慧;陈灿辉;郑宏涛;王国庆;宁学18-22
- 陈玲君23-27
- 虞沧28-30
- 庞斯棉31-33
- 姚强34-37
- 理论与算法
- 阎 38-41
- 刘钊42-44
- 廖武华;杨方伟;杨国平45-48+33
- 孙乐会49-54
- 付永鑫;孙少超55-57
- 贺一峰;盛碧琦58-59+70
- 宋劢;张腾飞60-62+33
- 网络与信息工程
- 海洋63-64+78
- 刘殿岫65-67
- 康健68-70
- 王伟71-72
- 郭平73-75
- 测试工具与解决方案
- 宁娟76-78
- 崔浩凯79-82
- 周伟83-87
- 王艳;陈卫卫88-92
- 秦银海;王炽荣;何伟光93-99
- 杨婉100-102
- 陆晶晶103-105+67
- 卫小伟106-108
- 罗彤109-113+117
- 穆剑桥;王智斌114-117
- 李晓敏;段超118-119+108
- 吴华;苏建国120-121+67
- 谷浩;刘容;党峰122-125
- 余建平126-129
- 科技论坛
- 鲍礼铭130-132
- 陈宇133-134+129
- 李立军;关镶锋135-137
- 田锋138-139+67
- 赵灵子140-141
- 徐礼丰142-145+164
- 刘鑫146-149
- 崔瀚150-153
- 王伟峰;刘国郑154-156+132
- 王克强157-158
- 陈付云159-161
- 代云韬;王庆福162-164
- 赵灵子165-166
- 陈海军;韩怀阳;谢军167-168+129
- 7-8
发布日期:2020-09-11
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