
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年5期
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《电子测试》2015年5期2015年 05期
目次
- 设计与研发
- 张秋雁1-3
- 徐心怡4-6
- 苏杰仁7-10
- 陈平平;张志坚;杨雷11-14
- 吴宁胜15-17
- 冉霞18-20+17
- 朱本春;丁成伟21-23
- 蔡建聪24-28
- 理论与算法
- 高明29-31
- 张浩32-34
- 郑怡文;彭超;白云晖;赵文宏35-37
- 张兆轩38-39+34
- 黄煜坤40-42+45
- 张宗飞43-45
- 应夏晖;石悦悦46-48
- 毛海斌;张潇笑49-51
- 詹治海52-53
- 宋烨;乐乐54-59+48
- 高凌洁;张雄伟60-62
- 网络与信息工程
- 周宏成63-65+68
- 李徐飞66-68
- 蒯雪婷69-71
- 段苗莹72-76
- 康冬77-78+71
- 曾嘉钟79-81
- 杨锐;金安铭82-84
- 黄智晖85-86+81
- 赵娜87-90
- 测试工具与解决方案
- 胡耀方91-93
- 张焕94-96
- 白雪峰97-100
- 唐红新101-102+93
- 刘帅103-105
- 丁建成;黄铿;谢奕106-107+90
- 丁雪松108-110
- 安彤;印小忠111-113+90
- 杨振杰;李伟;李窕114-116
- 陈富强117-120
- 张勇刚;李阳林121-122+116
- 巩建华;丁克勤;王磊;朱传齐123-125
- 焦灵侠126-130
- 科技论坛
- 史历程131-134
- 邵扣宗135-137
- 杨柳138-140
- 李耀阳;郭涛;刘敬明141-142+134
- 张勇143-144+137
- 唐景丽145-147
- 徐晓霞148-150
- 郭协潮151-153
- 戴昊;曾德军;崔志文154-155+140
- 焦灵侠156-157
- 符晓芳;陈晶158-160
- 孙立军;张晨;熊鸣161-163
- 陈静婷164-165+150
- 张博166-168
- 7-8
- 8
发布日期:2020-09-11
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