
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年4期
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《电子测试》2015年4期2015年 04期
目次
- 设计与研发
- 邵昊舒1-3
- 杨阳4-6
- 温柳;朱静华;姜海军;王茂元7-8
- 王华学9-10
- 袁小凯;蒙家晓;关泽武11-14
- 龚益民;吴正明;周建江15-18
- 叶永典19-21
- 张西虎;王鑫22-24
- 李龙镇25-26+29
- 理论与算法
- 马维青;于瑶章;张瑞芳27-29
- 董瑞亭;张静30-32
- 刘湘陵33-35
- 叶远国36-38
- 杨漾;张若曦;刘文彬;苏凯39-41
- 杨文42-43+6
- 韩群霞44-45+35
- 拜润卿;何欣;赵红;郭文科46-48
- 智勇;何欣;梁琛;刘巍49-51
- 李玉想52-53+38
- 戴亮;何欣;崔力心;倪赛赛54-56
- 徐心怡57-60
- 狄鹏慧;吕芳61-63
- 网络与信息工程
- 邵海丽64-66
- 闵筱薇67-69
- 孙铁成70-71+51
- 张巍72-74
- 李敏75-77
- 曾嘉钟78-79+66
- 李文丹80-81+3
- 李佳82-83+60
- 张桂宁84-85+41
- 刘旭光86-87+48
- 蔡丽霞88-89+74
- 周大庆90-92
- 程丽丽93-94+92
- 刘庆麟95-96+69
- 王宇;李巍;廖谦97-99
- 曹根堂100-102
- 杜卫卫103-105
- 测试工具与解决方案
- 文家雄;陈伟106-107+56
- 刘帅108-109+99
- 谭成兵110-112
- 张德齐;尹作友113-115
- 党杰116-117+102
- 魏亮118-119+105
- 竺华稀120-121+130
- 张辉;刘昀;任建伟;苏丹;闫磊;崔领先;杨大路;印权122-124
- 科技论坛
- 张海荣125-127
- 王佐128-130
- 蔡嘉荣;钱正浩;马旭;陈非;邹小武131-133
- 刘宝龙134-136
- 许芳137-139
- 邓杰140-141+127
- 刘生彦142-144
- 林晓145-146+144
- 张若曦;杨漾;刘文彬;苏凯147-149
- 张 150-152
- 王冬良153-154+152
- 巫修海155-156+139
- 傅佳157-159
- 倪有鹏160-162+133
- 钟宇平163-164+149
- 程保华;王少威;曲东良;汪富强165-168
- 7-8
- 8
发布日期:2020-09-11
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