
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年9期
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《电子测试》2015年9期2015年 09期
目次
- 设计与研发
- 袁成路;黄自鑫;王攀1-3
- 邬少华4-7
- 秦鹏;石婷洁8-12
- 黄一茗13-16
- 任强军;叶芳芳17-20+3
- 杨大路;范维;南淑君;宿雅婷21-23
- 王秀兰;胡芳;尹庆国24-26
- 胡兴梅;邹奇朋;杨文任;李子桦;马翠莲27-29
- 张绍军30-33+16
- 陆晶晶34-36
- 理论与算法
- 宋应龙37-39+26
- 温锦辉40-42
- 韩帅;孟晓鑫;陈欢43-45
- 包诚;徐幸;程明生46-48
- 张佳民49-52
- 彭晓雷;陈国祥;任开明;陈胜发53-55+52
- 付彩玲;夏巨江56-58
- 冯炽59-61+52
- 朱贤坤;刘学62-64
- 薛香莲65-67
- 网络与信息工程
- 梁洁68-70+73
- 史玉珍;单冬红71-73
- 季献纳74-77
- 陈平溪78-79+58
- 郎莹;张文涛;辛义80-82
- 郭兴安83-84
- 龚志勤85-86
- 赵龙;汪宁渤;何世恩;刘光途;张金平;王定美;周强;黄蓉;王明松87-88+58
- 王梓 89-91
- 测试工具与解决方案
- 穆剑桥;王智斌92-93+121
- 骆华;麦霭庭;单伟权;单志球94-97
- 王新堂98-101+77
- 张泽102-104+107
- 锁时;王成;刘健;潘家维105-107
- 徐鹏;王正旭;张柏年;林高翔108-110
- 王成琼;向六昭111-115
- 张涛116-118
- 奚德琳119-121
- 崔研122-123
- 李荣欣124-125+118
- 科技论坛
- 王成林126-129
- 魏作余;王智130-131+129
- 江智添;梁永权132-134
- 王科超135-136+139
- 邢琦137-139
- 尹庆国;胡芳;王秀兰140-141+118
- 李洪昊;刘琳琳142-143
- 何伟光;何浩明;梁 晟144-147+129
- 毛莉君;王心妍148-150
- 吴跃峰151-152+150
- 蔡金153-154
- 黄宝鹏155-157+150
- 陀树青;陈文泗;罗铭强;梁鹏158-162
- 缪春琼;李含霜;姚永鸿163-164
- 栗磊;张耀军165-168
- 7-8
发布日期:2020-09-11
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