
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
编辑出版:《电子测试》
国内刊号:CN 11-3927/TN
国际刊号:ISSN 1000-8519
出版周期:旬刊
发行范围:国内外公开发行
《电子测试》2015年18期
浏览:20次
-
《电子测试》2015年18期2015年 18期
目次
- 设计与研发
- 宋长军;白永祥1-3
- 浦仕钧;朱浩悦;郭金;张军军4-5+37
- 郝芸;杨奇;佟皓萌6-8
- 黄宇9-10
- 李菲11-12
- 汪锋13-14
- 王冰洋;蔺春波15-16
- 游海英17-18+10
- 陈明19-20+57
- 高俊祥;高孝亮21-22
- 李栋23-24+12
- 吴翠娟25-26+32
- 理论与算法
- 张金菊27-28
- 魏长宝29-32
- 韩桂明33-34+74
- 张丙星35-37
- 赵转;罗雅过;刘飒;袁菲38-39
- 赵立新40-41
- 樊海霞;朱纯仁42-43
- 于兆源;王思敏;孙澜曦;史欣44-45+43
- 王乾;倪嵩陟;戴瑞46-47+93
- 李佳琦48-52
- 网络与信息工程
- 王国军53-54
- 韩宝如;宗亮;梁帅55-57
- 陈广玉58-59
- 贾怀忠60-61
- 高大为62-63
- 张阳64-65
- 陈彩彦66-68
- 刘国全;白勇;廖勇69-71
- 刘晓艳72-74
- 测试工具与解决方案
- 郭庆春75-76
- 付巧云;丁文霞77-78+165
- 陈英79-80
- 郑吉安81-82
- 李浩83-85
- 张惠聪86-87+156
- 科技论坛
- 杨晓禹88-89
- 孔令夷90-93
- 黄霞;石磊94-95+74
- 孙良;杨瑞东;赵霏霏96-98
- 郝月梅99-100
- 梁燕101-102+76
- 李登科103-104
- 梁丽;刘祥柏105-106
- 钱伟107-108+168
- 孔国锋;魏亚东109-110
- 王志宏;迟桂兰111-112
- 闫媛媛113-114+112
- 胡苹115-116+68
- 贺楠117-118
- 张武生119-120
- 李晓华121-123
- 蔺春波;王冰洋124-125
- 邹晶晶126-127
- 蔡向阳128-129
- 芦海燕130-131
- 任姝慧132-133
- 王丹134-135+137
- 刘妍136-137
- 孙燕;毛春霞138-139
- 李玉红140-141
- 孙丹142-143+123
- 侯凤云;蔡晓龙144-145+98
- 刘妍146-147
- 余小花148-149
- 常凤英150-151+68
- 冯燕飞152-153
- 闻肖梅154-156
- 赵玉明157-158
- 王会财159-160
- 杜春晶;常颖161-163
- 朱艳164-165
- 凌彩金166-168
发布日期:2020-09-11
上一篇:《电子测试》2015年19期
下一篇:《电子测试》2015年17期